Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Đo chỉ số khúc xạ của tinh thể kali titanyl phosphat hai trục bằng kỹ thuật quang phổ phản xạ ellipsometry
Tóm tắt
Bài báo báo cáo việc đo đạc chỉ số khúc xạ và hệ số hấp thụ dị hướng của tinh thể kali titanyl phosphat (KTP) hai trục ở dạng tấm mỏng bằng kỹ thuật quang phổ phản xạ ellipsometry. Thí nghiệm này được thiết kế tại Phòng thí nghiệm Quang học Cao học của Đại học Addis Ababa, sử dụng laser He-Ne (λ = 632.8 nm), laser diode (λ = 670.0 nm) và laser diode tùy chỉnh nhiệt độ (λ = 804.4 và 808.4 nm) làm nguồn sáng. Dữ liệu thực nghiệm cho n_x, n_y được áp dụng vào mô hình lý thuyết Marquardt-Levenberg để điều chỉnh đường cong. Dữ liệu thực nghiệm thu được của chỉ số khúc xạ được so sánh với các giá trị lý thuyết và thực nghiệm khác hiện có của tinh thể KTP và cho thấy sự phù hợp tốt với chúng.
Từ khóa
#chỉ số khúc xạ #kali titanyl phosphat #tinh thể hai trục #kỹ thuật ellipsometry #hấp thụ dị hướngTài liệu tham khảo
B Hilezer and S Balanicka, Phys. Status Solidi B19, 717 (1973)
M Born and E Wolf, Principles of optics (Pergamon Press, New York, 1987)
V Marinova and M Veleva, Opt. Mater. 19(3), 329 (2002)
M V R S Murthy and R P Shukla, Opt. Eng. 22(2), 227 (1983)
R P Shukla, G M Perera, M C George and P Venkateswerlu, Opt. Commun. 78(1), 7 (1990)
R M A Azzam and N M Bashara, Ellipsometry and polarized light (North Holland Publishers, Amsterdam, 1977)
H J Peng, Z T Liu, H Y Chau, Y L Ho, B Z Tang, M Wong, H C Huang and H S Kwok, J. Appl. Phys. 92(10), 5735 (2002)
J N Hilfiker, Spectroscopic ellipsometry (SE) for materials characterization at 193 and 157 nm, Semiconductor Fabtech, 17th edition
M Schubert and W Dollase, Opt. Lett. 27(23), 2073 (2002)
F Xiong, R P H Chang, M E Hagerman, V L Kozhenikov, K R Poeppelmeier, H Zhou, G K Wong, J B Ketterson and C W White, Appl. Phys. Lett. 64(2), 161 (1994)
T Y Fan, C E Huang, B Q Hu, R C Eckardt, Y X Fan, R L Byer and R S Feigelson, Appl. Opt. 28(12), 2390 (1987)
Optical properties of KTP crystal, http://www.castech-us.com/casktp.htm
J D Bierlin and O B Arweiler, Appl. Phys. Lett. 49, 917 (1986)
U Chatterjee, A M Rudra, P K Datta, G C Bhar and T Sasaki, J. Phys. D. Appl. Phys. 28, 275 (1995)
G C Bhar, A M Rudra, A K Chaudhary, T Sasaki and Y Mori, Appl. Phys. B63, 141 (1996)
G C Bhar, A M Rudra, U Chatterjee and A K Chaudhary, J. Phys. D: Appl. Phys. 30, 2693 (1997)
A Gebaregiorgis, Determination of optical constants of a conducting polymer using reflection ellipsometry technique, M.S. Thesis, Addis Ababa University, June 2005
K Kato, IEEE J. Quantum Electron. 27, 1137 (1991)
A Molla, Determination of optical constants of KTP crystals using reflection ellipsometry technique, M.S. Thesis, Addis Ababa University, June 2005
H Van Herzeele and J D Bierlin, J. Opt. Soc. Am. B6, 622 (1989)
D Y Zhang, H Y Shen, W Liu, G F Zhang, W Z Chen, G Zhang, R R Zeng, C H Huang, W X Lin, and J K Liang, IEEE J. Quant. Electron. 35(10), 1447 (1999)
H Liao, H Shen, Z Zheng, T Lian, Y Zhaou, C Huang, R Zeng and G Yu, Opt. Laser Technol. 20, 103 (1988)
D A Dyakov, V V Krashnikov, V I Pryalkin, M S Pshenichnikov, T B Razumikhina, V S Solomation and A I Kholodnykh, Sov. J. Quant. Electron. 18, 1059 (1988)
H Y Shen, Y P Zhou, W X Lin, Z D Zeng, R R Seng, G F Yu, C H Huang, A D Jiang, S Q Jia and D Z Shen, IEEE J. Quant. Electron. 28, 48 (1992)
D W Anthon and C D Crowder, Appl. Opt. 27, 2651 (1998)
T Y Fan, C E Huang, B Q Hu, R C Eckardt, Y X Fan, R L Byer and R S Feigelson, Appl. Opt. 26(12), 2390 (1987)