Mảng Hạt Nano Từ Tính Có Độ Dài Cực Đều Được Điện Phân Trong Nanocửa Alumina Có Thứ Tự Cao ("Alumite")

Springer Science and Business Media LLC - Tập 636 - Trang 9331-9336 - 2001
Robert M. Metzger1, Ming Sun1, Giovanni Zangari1, Mohammad Shamsuzzoha1
1Center for Materials for Information Technology and Departments of Chemistry and Metallurgical and Materials Engineering, University of Alabama, Tuscaloosa, USA

Tóm tắt

Chúng tôi báo cáo về các mảng hạt nano từ tính hình trụ có kích thước nanomet với tỉ lệ chiều dài trên đường kính thấp và độ đồng nhất siêu cao. Quá trình oxy hóa điện trở kéo dài tạo ra các lỗ nano sắp xếp theo hình lục giác trong Al2O3 vô định hình. Cụ thể, sự lắng đọng điện hóa theo chu kỳ giúp phát triển các hạt Co với chiều dài đồng nhất từ đáy của các lỗ này: các hạt này có cấu trúc đa tinh thể và được định hướng ngẫu nhiên. Tính từ của mảng chủ yếu được chi phối bởi hình dạng của các hạt và các tương tác từ tĩnh giữa các hạt. Một chuyển đổi rất rõ ràng từ tính dị hướng từ phương vuông góc sang phương nằm trong mặt phẳng được quan sát ở tỉ lệ chiều cao trên bán kính khoảng 2. Phương pháp điện phân đảo chiều này cho thấy triển vọng lớn trong việc tổng hợp đáng tin cậy các cấu trúc nano đồng nhất của nhiều kim loại.

Từ khóa

#hạt nano từ tính #độ dài đồng nhất #điện phân #alumina #cấu trúc nano

Tài liệu tham khảo

M. H. New, R. F. W. Pease, and R. L. White, J. Vac. Sci. Technol. B12: 3196 (1994). R. L. White, R. M. H. New, and R. F. W. Pease, IEEE Trans. Magn. 33: 990 (1997). S. Y. Chou, M. S. Wei, P. R. Krauss, and P. B. Fischer,J. Appl. Phys. 76: 6673 (1994). C. A. Ross, H. I. Smith, T. Savas, M. Schattenburgh, M. Farhoud, M. Hwang, M. Walsh, M.C. Abraham, and R. J. Ram, J. Vac. Sci. Technol. B17: 3168 (1999). G. F. Hughes, IEEE Trans. Magn. 36: 521 (2000). H. Masuda and K. Fukuda, Science 268: 1466 (1995). V. V. Konovalov, R. M. Metzger, and G. Zangari, in Electrochemical Technology Applications in Electronics, Vol. PV 99–34 (The Electrochemical Society, Pennington, NJ, 2000) p. 203. H. Masuda, H. Yamada, M. Satoh, H. Asoh, M. Nakao, and T. Tamamura, Appl. Phys. Lett. 71: 2770 (1997). F. Li, L. Zhang, and R. M. Metzger, Chem. Mater. 10: 2470 (1998). O. Jessensky, F. Müller, and U. Gösele, Appl. Phys. Lett. 72: 1173 (1998). R. M. Metzger, V. V. Konovalov, M. Sun, T. Xu, G. Zangari, B. Xu, M. Benakli, and W. D. Doyle, IEEE Trans. Magn. 36: 30 (2000). M. Sun, G. Zangari, M. Shamsuzzoha, and R. M. Metzger, in preparation. J. O’M. Bockris and A. K. N. Reddy, Modern Electrochemistry, Vol. 1 (2nd Ed., Plenum, New York, NY, 1998), p. 370. A. Aharoni, IEEE Trans. Magn. 22: 478 (1986).