Nghiên cứu Đặc điểm Cấu trúc và Vi cấu trúc của Phim Mỏng Titanat Chì Lanthanum được Đưa Ra từ Kỹ thuật Sol-Gel

S. B. Majumder1, Seemesh Bhaskar1, P. S. Dobal1, Antonio Cruz2, R. S. Katiyar1
1Department of Physics, USA
2Department of Chemistry, University of Puerto Rico, San Juan, USA

Tóm tắt

Tóm tắtTrong công trình hiện tại, chúng tôi đã nghiên cứu các đặc điểm của Pb1.05-xLaxTil-x/4O3 (x = 0 đến 30 at%) phim mỏng được chuẩn bị bằng kỹ thuật sol-gel dựa trên axit axetic và methoxy-ethanol. Chúng tôi nhận thấy rằng các phim được nung ở nhiệt độ trung gian cao hơn (x = 0.15) có sự tăng trưởng có kết cấu (100) với các đặc tính điện môi được cải thiện. Chúng tôi đã lập luận rằng sự trộn lẫn đồng nhất của các thành phần phim trong sol bị ảnh hưởng bởi sự lựa chọn vật liệu tiền chất và phương pháp chuẩn bị, điều này cũng kiểm soát các đặc điểm tăng trưởng và các thuộc tính điện. Lanthanum như một chất pha tạp có ảnh hưởng đáng kể đến cấu trúc, vi cấu trúc và các tính chất điện của các phim được déposer. Trong phổ Raman, phonon mềm E(1TO) dịch về tần số thấp hơn với sự giảm sút mạnh mẽ về cường độ và một sự biến đổi cấu trúc từ hình tứ diện sang hình lập phương (đối với 26.5 at% La) được quan sát thấy ở nhiệt độ phòng. Trong khoảng tỷ lệ thành phần ferroelectric (lên đến 15 at% La doping), chúng tôi đã quan sát được sự cải thiện đáng kể các thuộc tính ferroelectric với sự thêm vào của La.

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

10.1103/PhysRevLett.25.1191

10.1143/JJAP.35.205

10.1080/00150199908260582

10.1063/1.1750872

10.1557/JMR.1998.0140

10.1111/j.1151-2916.1999.tb02091.x

10.1557/JMR.1997.0066

10.1103/PhysRevLett.21.16

10. Instruction manual of DSC kinetic analysis software program, Shimadzu Corporation.

10.1143/JJAP.34.5683

10.1063/1.359049

10.1080/10584589708015718

10.1080/10584589508220244

10.1557/JMR.1997.0118

10.1063/1.110383

10.1557/JMR.1995.2777

10.1111/j.1151-2916.1989.tb07686.x

10.1080/10584589608013051