Integrating-sphere system and method for absolute measurement of transmittance, reflectance, and absorptance of specular samples

Optica Publishing Group - Tập 40 Số 19 - Trang 3196 - 2001
Leonard M. Hanssen1
1Optical Technology Division, National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, Maryland 20899, USA

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

Sheffer, 1990, Appl. Opt., 29, 129, 10.1364/AO.29.000129

Chenault, 1995, Appl. Opt., 34, 7959, 10.1364/AO.34.007959

Hanssen, 1999, Anal. Chim. Acta, 380, 289, 10.1016/S0003-2670(98)00669-2

Kaplan, 1999, Anal. Chim. Acta, 380, 303, 10.1016/S0003-2670(98)00670-9

Birch, 1995, Spectrosc. Eur., 7, 16

Kaplan, 1997, Appl. Opt., 36, 8896, 10.1364/AO.36.008896

Thông tin
Thông tin xuất bản

Optica Publishing Group

Tập 40 Số 19

3196

Thông tin tác giả