Đo lường không gian tự do của độ permittivity phức và độ từ thẩm phức của vật liệu từ sử dụng phương pháp mạch hở và mạch ngắn tại tần số vi sóng

Để đo lường các vật liệu dielectrics, chúng tôi đã phát triển một hệ thống đo lường không gian tự do trong khoảng tần số từ 8 - 12,5 GHz. Các thành phần chính của hệ thống đo lường gồm có một cặp ăng-ten giác hội tụ hình phễu, máy phân tích mạng và cáp đồng trục. Trong dự án này, mục tiêu là phân tích và đo lường các hệ số phản xạ phức tạp của các vật liệu dielectrics như các tấm cao su silicon tải sắt carbonyl và PVC bằng cách sử dụng phương pháp mạch ngắn và mạch hở ở tần số vi sóng. Kỹ thuật hiệu chuẩn thru, reflect và line 2 (LRL) đã được sử dụng để loại bỏ các hiệu ứng phản xạ không mong muốn. Bằng cách thực hiện một thuật toán được suy diễn từ mạch hở và mạch ngắn, được xác định từ các phương trình đường truyền, các hằng số dielectrics và độ từ thẩm phức tạp đã được tính toán từ các hệ số phản xạ đã đo được.