Ferroelectric Hafnium Oxide Based Materials and Devices: Assessment of Current Status and Future Prospects
Tóm tắt
Từ khóa
Tài liệu tham khảo
Buck D. A. , Master Thesis, MIT, Massachusetts (1952).
Jung D. J. Jeon B. G. Kim H. H. Song Y. J. Koo B. J. Lee S. Y. Park S. O. Park Y. W. Kim K. . in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), p. 279 (1999).
Brain R. Baran A. Bisnik N. Chen H.-P. Choi S.-J. Chugh A. Fradkin M. Glassman T. Hamzaoglu F. Hoggan E. Jahan R. Jamil M. Jan C.-H. Jopling J. Kan H. Kasim R. Kirby S. Lahiri S. Lee B.-C. Lenski D. Limb J. Lindert N. Musorrafiti M. Neulinger J. Rockford L. Park J. Singh K. Staus C. Steigerwald J. Turkot B. Vandervoorn P. Venkatesan R. Wu S. Yeh J.-Y. Wang Y. Zhang Z. Zhang K. in Symposium on VLSI Technology (VLSIT), p. T16 (2013).
Koo J.-M. Seo B.-S. Kim S. Shin S. Lee J.-H. Baik H. Lee J.-H. Lee J. H. Bae B.-J. Lim J.-E. Yoo D.-C. Park S.-O. Kim H.-S. Han H. Baik S. Choi J.-Y. Park Y. J. Park Y. in IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM), p. 343 (2005).
