Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Sự phát triển của đặc điểm I–V không tuyến tính có độ trễ trong các siêu dẫn phim mỏng tái nhập
Tóm tắt
Vai trò của hiện tượng tự gia nhiệt trong một siêu dẫn phim mỏng tái nhập mang dòng điện trong trạng thái bình thường ferromagnetic được xem xét thông qua việc phân tích các chuyển tiếp bình thường-siêu dẫn bị làm mờ quan sát được trong hệ thống. Dựa trên một mô hình gia nhiệt đơn giản, tác động của hiện tượng làm mờ này lên đặc tính dòng-điện áp (I–V) của hệ thống được nghiên cứu. Kết quả cho thấy rằng ngay cả trên một phân tích đơn giản cũng có thể phản ánh sinh động các đặc điểm nổi bật của hệ thống, bao gồm sự phát triển của độ trễ trong các đường cong I–V phi tuyến tính và hành vi dưới một trường điện từ bên ngoài hoặc bức xạ.
Từ khóa
#siêu dẫn #phim mỏng #dòng điện #điện áp #đặc tính I–V #ferromagnetic #chuyển tiếp siêu dẫnTài liệu tham khảo
For a recent review, seeG. Dharmadurai:Phys. Status Solidi A,92, 11 (1980).
G. Dharmadurai andN. S. Satya Murthy:Phys. Lett. A,75, 395 (1980).
G. Dharmadurai:Phys. Lett. A,78, 481 (1980), and references therein;Indian J. Cryogenics, to appear.
J. M. Rowell: private communication (1980).
J. M. Rowell, R. C. Dynes andP. H. Schmidt:Solid State Commun.,30, 191 (1979).
For example, see eq. (5.3) ofK. Mizuno andT. Aomine:J. Phys. Soc. Jpn.,48, 1908 (1980), and eq. (3.2) ofJ. R. Clem andR. P. Huebener:J. Appl. Phys.,51, 2764 (1980).
O. Meyer andG. Linker:J. Low Temp. Phys.,38, 747 (1980), and references therein.
V. A. Volotskaya, A. Bogdzevich, L. E. Musienko andY. V. Kalekin:Cryogenics,18, 557 (1978).
M. G. Cottam:J. Phys. (Paris),39, C6–277 (1978), and references therein.