Công bố khoa học
Công cụ trích dẫn
Công bố khoa học
Trích dẫn
Tạp chí khoa học
Cơ quan đơn vị
Quản lý tài khoản
Danh mục đã lưu
Đăng xuất
Evaluation of single-crystal X-ray diffraction data from a position-sensitive detector
Journal of Applied Crystallography
- Tập 21 Số 6
- Trang 916-924
- 1988
Wolfgang Kabsch
Tóm tắt
Từ khóa
Đi đến bài gốc
Trích dẫn
Lưu lại
Báo lỗi
Tài liệu tham khảo
Thông tin
DOI
:
10.1107/s0021889888007903
Thông tin xuất bản
Nhà xuất bản:
Journal of Applied Crystallography
Tập/Số:
Tập 21 Số 6
Trang:
916-924
Thông tin tác giả