Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Đánh Giá Độ Không Chắc Mở Rộng Trong Kết Quả Đo Dòng Ngắn Mạch Của Các Mô-Đun Quang Điện Màng Mỏng
Tóm tắt
Các nguồn không chắc chắn trong việc đo dòng ngắn mạch của các mô-đun quang điện màng mỏng được phân tích. Một sơ đồ Ishikawa được phát triển để biểu diễn các nguồn không chắc chắn chính khi sử dụng bộ mô phỏng bức xạ mặt trời xung. Độ không chắc chắn kết hợp mở rộng trong kết quả đo dòng ngắn mạch được tính toán với các nguồn này được xem xét.
Từ khóa
#dòng ngắn mạch #mô-đun quang điện #độ không chắc chắn #bộ mô phỏng bức xạ mặt trời #sơ đồ IshikawaTài liệu tham khảo
IEC 60904-4:2009, Photovoltaic Devices, Pt. 4, Procedures for Establishing the Traceability of the Calibration of Photovoltaic Reference Devices.
IEC 60904-9:2007, Photovoltaic Devices, Pt. 9, Solar Simulator Performance Requirements.
GOST 8.195-89, GSI. National Verification Scheme for Means of Measuring the Spectral Energy Brightness Distribution, Spectral Intensity Distribution, and Spectral Density of Irradiance over Wavelengths from 0.25 to 25.00 μm; Intensity and Irradiance over Wavelengths of 0.2 to 25.0 μm.
J. Hohl-Ebinger and W. Warta, “Uncertainty of the spectral mismatch correction factor in STC measurements on photovoltaic devices,” Prog. Photovolt.: Res. Appl., 19, 573–579 (2011).
R. Adelheim and D. Berger, “Requirement for a large area solar simulator regarding the measurement of MJ solar cells,” Proc. 3rd World Conf. Photovoltaic Energy Conversion, Osaka, Japan (2003), Vol. 1, pp. 821–824.
H. Mullejans,W. Zaalman, and R. Galleano, “Analysis and mitigation of measurement uncertainties in the traceability chain for the calibration of photovoltaic devices,” Meas. Sci. Technol., 20, 075101–11 (2009).
H. Mullejans et al., “Comparison of traceable calibration methods for primary photovoltaic reference cells,” Prog. Photovolt.: Res. Appl., 13, 661–671 (2005).
K. Emery, Uncertainty Analysis of Certified Photovoltaic Measurements at the National Renewable Energy Laboratory: Technical Report (2009).
IEC 60904-1:2006, Photovoltaic Devices, Pt. 1, Measurement of Photovoltaic Current-Voltage Characteristics.
IEC 60904-2:2007, Photovoltaic Devices, Pt. 2, Requirements for Reference Solar Devices.
IEC 60904-3:2008, Photovoltaic Devices, Pt. 3, Measurement Principles for Terrestrial Photovoltaic (PV) Solar Devices with Reference Spectral Irradiance Data.
IEC 60891:2009, Photovoltaic Devices. Procedures for Temperature and Irradiance Corrections to Measured I–V Characteristics of Crystalline Silicon Photovoltaic Devices.
ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of Measurement, Pt. 3, Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement.
Kaoru Ishikawa, Guide to Quality Control (industrial engineering and technology), Asian Productivity Org., Tokyo (1976).
S. V. Ponomarev et al., Production Quality Control. Instruments and Methods for the Management of Quality [in Russian], RIA Standarty i Kachestvo, Moscow (2005).
Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement [Russian translation from English], VNIIM im. Mendeleeva, St. Petersburg (1999).
A. Luque and S. Hegedus, Handbook of Photovoltaic Science and Engineering, J. Wiley, NY (2003).