Cải thiện Tính Chất Nhiệt Điện của Phim Mỏng Cubic Ge2Sb2Te5 Thông Qua Việc Giới Thiệu Rối Loạn Cấu Trúc

Energy Technology - Tập 4 Số 3 - Trang 375-379 - 2016
Manish Kumar1, Athorn Vora–ud1,2, Tosawat Seetawan2, Jeon G. Han1,3
1Center for Advanced Plasma Surface Technology, NU-SKKU Joint Institute for Plasma-Nano Materials, School of Advanced Materials Science and Engineering, Sungkyunkwan University, Suwon, 440-746 Korea
2Program of Physics, Faculty of Science and Technology, Sakon Nakhon Rajabhat University, Sakon Nakhon-, 47000 Thailand
3Department of Industrial Engineering, Faculty of Engineering, Chiang Mai University, Chiang Mai-, 50200 Thailand

Tóm tắt

Tóm tắt

Các hiệu suất nhiệt điện thường được cải thiện bằng cách giảm thiểu độ dẫn nhiệt của vật liệu, có thể bằng cách giới thiệu cấu trúc siêu mạng hoặc hình thái nano. Ở đây, một phương pháp mới để cải thiện hiệu suất, dựa trên việc cải thiện hệ số Seebeck, được trình bày cho các phim mỏng Ge2Sb2Te5. Nhiệt độ electron được kiểm soát bằng cách sử dụng nguồn plasma dòng điện một chiều (DC) xung, và sự rối loạn cấu trúc của pha tinh thể lập phương đã cải thiện các hệ số Seebeck, như được hỗ trợ bởi các tính toán orbital phân tử. Kết quả của chúng tôi chứng minh hệ số Seebeck ở nhiệt độ phòng là 190,8 μV K−1 cho các phim dày 200 nm được lắng đọng trên kính.

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

10.1016/j.nanoen.2012.10.005

10.1126/science.1072886

10.1002/ente.201300166

10.1126/science.1221561

10.1088/0034-4885/78/1/013001

I. Ronneberger W. Zhang H. Eshet R. Mazzarello Adv. Funct. Mater.2015 DOI:10.1002/adfm.201500849.

10.1002/pssa.201228397

10.1063/1.4731252

10.1016/j.jallcom.2015.07.120

10.1103/PhysRevE.60.6016

10.1063/1.1314323

10.1143/JPSJ.45.875

10.1016/j.commatsci.2010.04.013

Slater J. C., 1974, Quantum Theory of Molecules and Solids, 88

Villars P., 1996, Pearson's Handbook of Crystallographic Data for Intermetallic Phases, 79

10.1038/ncomms4525