Electron trapping instabilities in polycrystalline silicon thin film transistors

Semiconductor Science and Technology - Tập 5 Số 1 - Trang 72-77 - 1990
N. D. Young1, A. Gill1
1Philips Res. Labs., Redhill, UK

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

Powell M J, 1988, Proc. Soc. for Information Display, 29, 227

Morozumi S, 1986

10.1063/1.100704

Mimura A, IEEE Trans. Electron Devices, 36, 351, 10.1109/16.19936

10.1063/1.100897

10.1063/1.343902

Brotherton S D, 1988

Nicollian E H

10.1063/1.1659996

Adams A C, 1981, J. Electrochem. Soc., 128, 1555, 10.1149/1.2127682

10.1063/1.100617

10.1063/1.101512

Thông tin
Thông tin xuất bản

Semiconductor Science and Technology

Tập 5 Số 1

72-77

Thông tin tác giả