Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Chẩn đoán phát xạ điện từ của vật liệu điện môi dưới tải siêu âm
Tóm tắt
Nghiên cứu thực nghiệm về chẩn đoán phát xạ điện từ của các điện môi rắn chịu tải siêu âm được tạo ra bởi chùm tia laser xung có độ dài nanô giây. Thiết bị và quy trình thực nghiệm được mô tả. Kết quả cho thấy quy trình này là một công cụ chẩn đoán hiệu quả để theo dõi trạng thái điện và cấu trúc của các vật liệu điện môi rắn.
Từ khóa
#chẩn đoán phát xạ điện từ #điện môi #tải siêu âm #laser xung #vật liệu điện môiTài liệu tham khảo
N. G. Khatnashvili and M. E. Perel'man,Dokl. Akad. Nauk SSSR,256, No. 4, 824–831 (1981).
V. F. Gordeev, V. P. Dmitriev, and Yu. P. Malyshkov,Zh. Tekh. Fiz.,54, No. 2, 336–341 (1984).
V. F. Gordeev, Yu. P. Malyshkov, V. L. Chakhlov, et al.,Defektoskopiya, No. 7, 76–80 (1992).
A. A. Vorob'ev, V. P. Dmitriev, V. A. Smirnov, et al.,Steklo Keram., No. 10, 10–11 (1982).
A. A. Urusovskaya,Usp. Fiz. Nauk,96, No. 1, 39–60 (1968).
V. I. Verkhoturov, O. S. Grafodatskii, V. I. Simanchuk, et al., Special issue of the journalIzvestiya Vysshikh Uchebnykh Zavedenii, Fizika, deposited at the All-Union Institute of Scientific and Technical Information [in Russian], VINITI Deposit No. 1912, Tomsk (1989).
L. D. Landau and E. M. Lifshitz,The Classical Theory of Fields, 4th ed., Vol. 2, Pergamon Press, Oxford-New York (1975).