EXAFS and multiple scattering theory as powerful tools to determine complex structures: Application to Mn films grown on Ir

Journal of Magnetism and Magnetic Materials - Tập 165 - Trang 185-190 - 1997
S. Andrieu1, H.M. Fischer1, A. Traverse2, M. Piecuch1
1Laboratoire de Métallurgie Physique et Sciences des Matériaux, CNRS / Université Henri Poincaré de Nancy, BP 239, 54506 Vandoeuvre, France
2Laboratoire pour l'Utilisation du Rayonnement Synchrotron, CNRS / CEA / Université Paris sud, 91405 Orsay, France

Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Journal of Magnetism and Magnetic Materials

Tập 165

185-190

Thông tin tác giả