Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Chẩn đoán các tham số vi phân trong các mô hình transistor hiệu ứng trường
Tóm tắt
Nghiên cứu tính khả thi của việc tăng độ chính xác của mô phỏng các tham số vi phân trong các mô hình của transistor hiệu ứng trường và, do đó, của các đặc tính tần số của các mạch vô tuyến thông qua việc chẩn đoán riêng rẽ các tham số tĩnh và vi phân được xem xét. Tính khả thi của việc đạt được sai số mô phỏng có cùng bậc cho cả hai loại tham số được chứng minh.
Từ khóa
#transistor hiệu ứng trường #tham số vi phân #mô phỏng #chẩn đoánTài liệu tham khảo
Y. P. Tsividis and K. Suyama, IEEE J. Sol.-St. Circuits 29 (3), 210 (1994).
V. N. Biryukov and A. M. Pilipenko, Izv. Vyssh. Uchebn. Zaved. Elektron. 8 (6), 22 (2003).
V. N. Biryukov, Izv. Vyssh. Uchebn. Zaved. Elektron. 13 (4), 69 (2008).
C. C. McAndrew, IEEE J. Sol.-St. Circuits 33 (3), 439 (1998).
A. M. Pilipenko and V. N. Biryukov, Usp. Sovremen. Radioelektron. No. 9, 66 (2011).
Q. Huang, in Proc. 1997 IEEE Int. Symp. on Circuits and Systems (ISCAS'97), Hong-Kong, June 9–12, 1997 (IEEE, New York, 1997), Vol. 2, p. 1401.
V. V. Denisenko, Compact Models of MOP-Transistors (MOSFET) for SPICE in Microand Nanoelectronics (Fizmatlit, Moscow, 2010) [in Russian].
I. V. Semernik and I. V. Shekhovtsova, in Proc. 10th AllRussia Sci. Conf. on Engineering Cybernetics, Radioelectronics and Control Systems, Taganrog, 2010 (Techn. Inst. Yuzhn. Federal. Univ., Taganrog, 2010), Vol. 1, p. 12.
V. N. Biryukov, Izv. Vyssh. Uchebn. Zaved. Elektron. 15 (5), 22 (2010).
E. Gad, M. Nakhla, R. Achar, and Y. Zhou, IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circ. Syst. 28, 1359 (2009).
P. Horowitz and W. Hill, The Art of Electronics (Cambridge Univ. Press, Cambridge, 1989; Mir, Moscow, 1993), Vol. 3.
V. N. Biryukov, J. Commun. Technol. Electron. 54, 1087 (2009).
D. P. Foty, MOSFET Modeling with SPICE: Principles and Practice (Prentice Hall, Upper Saddle River, 1997).
M. Kondo, H. Onodera, and K. Tamaru, IEEE Trans. Comput.-Aided Des. Integr. Circ. Syst. 17 (5), 400 (1998).