Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Những phát triển trong việc kiểm tra TEM của Pu và hợp kim Pu
Tóm tắt
Việc đặc trưng vi cấu trúc của plutonium bằng cách sử dụng Kính hiển vi điện tử truyền qua (TEM) trước đây gặp khó khăn do độc tính cực cao và tốc độ ôxy hóa của kim loại plutonium. Những phát triển gần đây trong việc chuẩn bị mẫu plutonium đã cho thấy rằng có thể chuẩn bị các tấm của cả hai pha alpha và delta của plutonium cho TEM mà không cần sử dụng các hệ thống hơi trơ hay các thiết bị chuẩn bị phức tạp. Các mẫu có thể được sản xuất, sử dụng các kỹ thuật mài điện tiêu chuẩn, cho phép thu được những dữ liệu vi cấu trúc quan trọng về plutonium và hợp kim plutonium.
Từ khóa
#plutonium #vi cấu trúc #kính hiển vi điện tử truyền qua #hợp kim plutonium #kỹ thuật mài điệnTài liệu tham khảo
D.L. Rohr and K.P. Staudhammer, J. Nucl. Mater. 144, 202 (1987).
D.L. Rohr, K.P. Staudhammer, K.A. Johnson, Los Alamos Report, LA-9965-MS (March 1984).
K.A. Johnson, K.P. Staudhammer, M.F. Stevens, Unpublished research.
A.W. Brewer and F.J. Fraikor, J. Nucl. Mater. 21, 345 (1967).
D.L. Douglass and S.E. Bronisz, J. Nucl. Mater. 23, 107 (1967).
L. Ekbom, U. Johansson, M. Tornqulst, J. Nucl. Mater. 24, 230 (1967).
K. P. Staudhammer, K. A. Johnson, M. F. Stevens, and W. J. Medina, 44th Proc. Ann. EMSA Meeting, edited by G. W. Bailey (San Francisco Press, 1986), p. 564.
M.A. Choudhry and A.G. Crocker, J. Nucl. Mater. 127, 119 (1985).
E.G. Zukas, S.S. Hecker, J.R. Morgan, R.A. Pereyra, Proc. Conf. Solid-Solid Phase Transformations, Edited by H. Aaronson (The Metallugical Society of AIME, 1982), pp. 1333–1337.
S.S. Hecker, E.G. Zukas, J.R. Morgan, R.A. Pereyra, ibid., pp. 1339–1343.
R.D. Baker, S.S. Hecker, D.A. Harbur, Los Alamos Science Winter/Spring 1983, pp. 142–151.
F.H. Ellinger, C.C. Land, V.O. Struebing, J. Nucl. Mater. 12, 226 (1964).
K.C. Thompson-Russell and J.W. Edington, Practical Electron Microscopy in Materials Science, Monograph 5, (The Macmillan Press Ltd., London, 1977).
L.E. Murr, Electron and Ion Microscopy and Microanalysis, (Marcel Dekker, Inc., New York, 1982), p. 686.
R.A. Pereyra, private communication.