Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Kính hiển vi cửa sổ nước để bàn sử dụng nguồn khí đẩy hai luồng
Tóm tắt
Một kính hiển vi kích thước nhỏ gọn, phù hợp với bàn làm việc, dựa trên nguồn phát tia X mềm sử dụng khí đẩy hai luồng nitơ, phát ra bức xạ trong phạm vi bước sóng cửa sổ nước tại bước sóng λ = 2,88 nm, đã được trình bày. Kính hiển vi này sử dụng gương ngưng tụ với độ nghiêng hình elip để chiếu sáng mẫu và ống kính vùng Fresnel. Kính hiển vi có khả năng chụp ảnh phóng đại các đối tượng với độ phân giải không gian 60 nm và thời gian phơi sáng chỉ mất vài giây. Các chi tiết liên quan đến nguồn phát và kính hiển vi cũng như một vài ví dụ về các ứng dụng khác nhau được trình bày và thảo luận.
Từ khóa
#kính hiển vi #nguồn phát tia X mềm #khí đẩy hai luồng #cửa sổ nước #độ phân giải không gianTài liệu tham khảo
W. Chao, P. Fischer, T. Tyliszczak, S. Rekawa, E. Anderson, P. Naulleau, Opt. Express 20(9), 9777–9783 (2012)
L.B. Da Silva, J.E. Trebes, R. Balhorn, S. Mrowka, E. Anderson, D.T. Attwood, T.W. Barbee Jr., J. Brase, M. Corzett, J. Gray, J.A. Koch, C. Lee, D. Kern, R.A. London, B.J. MacGowan, D.L. Mathews, Science 258, 269 (1992)
P.W. Wachulak, A. Bartnik, H. Fiedorowicz, Opt. Lett. 35(14), 2337–2339 (2010)
F. Brizuela, Y. Wang, C.A. Brewer, F. Pedaci, W. Chao, E.H. Anderson, Y. Liu, K.A. Goldberg, P. Naulleau, P. Wachulak, M.C. Marconi, D.T. Attwood, J.J. Rocca, C.S. Menoni, Opt. Lett. 34, 271 (2009)
D. Bleiner, F. Staub, J.E. Balmer, Proc. SPIE 8140. X-ray lasers and coherent X-ray sources: development and applications IX, 814014 (2011). doi:10.1117/12.893319
L. Juschkin, A. Maryasov, S. Herbert, A. Aretz, K. Bergmann, R. Lebert, AIP Conf. Proc. 1365, 265 (2011)
K.W. Kim, Y. Kwon, K.Y. Nam, J.H. Lim, K.G. Kim, K.S. Chon, B.H. Kim, D.E. Kim, J.G. Kim, B.N. Ahn, H.J. Shin, S. Rah, K.H. Kim, J.S. Chae, D.G. Gweon, D.W. Kang, S.H. Kang, J.Y. Min, K.S. Choi, S.E. Yoon, E.A. Kim, Y. Namba, K.H. Yoon, Phys. Med. Biol. 51, N99 (2006)
P.A.C. Takman, H. Stollberg, G.A. Johansson, A. Holmberg, M. Lindblom, H.M. Hertz, J. Microsc. 226(2), 175 (2007)
D.H. Martz, M. Selin, O. von Hofsten, E. Fogelqvist, A. Holmberg, U. Vogt, H. Legall, G. Blobel, C. Seim, H. Stiel, H.M. Hertz, Opt. Lett. 37(21), 4425 (2012)
G.A. Johansson, A. Holmberg, H.M. Hertz, M. Berglund, Rev. Sci. Instrum. 73(3), 1193 (2002)
M. Müller, T. Mey, J. Niemeyer, K. Mann, Opt. Express 22(19), 23489 (2014)
H. Legall, G. Blobel, H. Stiel, W. Sandner, C. Seim, P. Takman, D.H. Martz, M. Selin, U. Vogt, H.M. Hertz, D. Esser, H. Sipma, J. Luttmann, M. Höfer, H.D. Hoffmann, S. Yulin, T. Feigl, S. Rehbein, P. Guttmann, G. Schneider, U. Wiesemann, M. Wirtz, W. Diete, Opt. Express 20(16), 18362–18369 (2012)
H. Legall, H. Stiel, G. Blobel, C. Seim, J. Baumann, S. Yulin, D. Esser, M. Hoefer, U. Wiesemann, M. Wirtz, G. Schneider, S. Rehbein, H.M. Hertz, J. Phys. Conf. Ser. 463, 012013 (2013)
M. Bertilson, O. von Hofsten, U. Vogt, A. Holmberg, H.M. Hertz, Opt. Express 17(13), 11057 (2009)
G. Schneider, Ultramicroscopy 75, 85–104 (1998)
W. Meyer-Ilse, D. Hamamoto, A. Nair, S.A. Lelièvre, G. Denbeaux, L. Johnson, A.L. Pearson, D. Yager, M.A. Legros, C.A. Larabell, J. Microsc. 201(3), 395–403 (2001)
J. Maser, A. Osanna, Y. Wang, C. Jacobsen, J. Kirz, S. Spector, B. Winn, D. Tennant, J. Microsc. 197(1), 68–79 (2000)
P.W. Wachulak, A. Bartnik, H. Fiedorowicz, T. Feigl, R. Jarocki, J. Kostecki, R. Rakowski, P. Rudawski, M. Sawicka, M. Szczurek, A. Szczurek, Z. Zawadzki, Appl. Phys. B 100(3), 461–469 (2010)
P.W. Wachulak, A. Bartnik, M. Skorupka, J. Kostecki, R. Jarocki, M. Szczurek, L. Wegrzynski, T. Fok, H. Fiedorowicz, Appl. Phys. B. 111(2), 239–247 (2013)
P.W. Wachulak, A. Bartnik, L. Wegrzynski, J. Kostecki, R. Jarocki, T. Fok, M. Szczurek, H. Fiedorowicz, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. Sect. B 311, 42–46 (2013)
J.M. Heck, D.T. Attwood, W. Meyer-Ilse, E.H. Anderson, J. X-ray Sci. Technol. 8, 95 (1998)
CXRO X-ray interactions with matter website: http://henke.lbl.gov/optical_constants/
R.L. Kelly, J. Phys. Chem. Ref. Data 16(Suppl. 1), 82 (1987)
D. Attwood, Soft X-Rays and Extreme Ultraviolet Radiation (Cambridge University, Cambridge, England, 1999)
P.W. Wachulak, A. Bartnik, H. Fiedorowicz, J. Kostecki, Opt. Express 19(10), 9541–9550 (2011)