Công bố khoa học
Công cụ trích dẫn
Công bố khoa học
Trích dẫn
Tạp chí khoa học
Cơ quan đơn vị
Quản lý tài khoản
Danh mục đã lưu
Đăng xuất
D-C Dielectric Breakdown of Amorphous Silicon Dioxide Films at Room Temperature
Journal of the Electrochemical Society
- Tập 115 Số 1
- Trang 88
- 1968
F. L. Worthing
1
1
Bell Telephone Laboratories, Incorporated Murray Hill, New Jersey
Tóm tắt
Từ khóa
Đi đến bài gốc
Trích dẫn
Lưu lại
Báo lỗi
Tài liệu tham khảo
Thông tin
DOI
:
10.1149/1.2411029
Thông tin xuất bản
Nhà xuất bản:
Journal of the Electrochemical Society
Tập/Số:
Tập 115 Số 1
Trang:
88
Thông tin tác giả