Compound formation and large microstrains at the interface of II-VI/III-V semiconductors detected by Raman spectroscopy
Tóm tắt
Từ khóa
Tài liệu tham khảo
, 1971, 6
Zahn D R T, 1991, J. Vac. Sci. Technol.
Sitter H, 1990, 219
Brafman O, 1971, 284
, 1971, 6
Zahn D R T, 1991, J. Vac. Sci. Technol.
Sitter H, 1990, 219
Brafman O, 1971, 284