Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Đặc trưng hóa các loại cao su được gia cố bằng phương pháp tán xạ tia X góc nhỏ
Tóm tắt
Nghiên cứu chỉ ra cách thức tán xạ tia X góc nhỏ (SAXS) có thể được sử dụng để đặc trưng hóa cấu trúc của các chất độn như carbon đen và silica cả trước và sau khi chúng được đưa vào cao su tự nhiên. Kết quả cho thấy SAXS có những ưu điểm vượt trội so với các phương pháp truyền thống như hấp thụ khí hoặc hiển vi điện tử trong việc xác định cả kích thước và phân bố kích thước của các hạt độn. Kết quả được chứng minh là có sự tương đồng tốt với các kết quả thu được từ các kỹ thuật truyền thống. Ngoài ra, nghiên cứu cũng chỉ ra rằng SAXS có thể được sử dụng để đặc trưng hóa các hạt độn trong situ, cho phép xác định phân đoạn thể tích, kích thước hạt và diện tích bề mặt hạt cho cao su đã được gia cường và xem xét các yếu tố như sự tập hợp.
Từ khóa
#tán xạ tia X góc nhỏ #cao su tự nhiên #chất độn #carbon đen #silica #phân đoạn thể tích #kích thước hạtTài liệu tham khảo
G. Kraus (ed), “Reinforcement of Elastomers” (Interscience, New York, 1965).
L. Mullins (Ch. 10) andH. W. Greensmith, L. Mullins andA. G. Thomas (Ch. 11) in “Chemistry and Physics of Rubber-like Substances” (Maclaren, London, 1963).
A. I. Medalia, in “Carbon Black — Polymer Composites” edited by E. K. Sichel (Marcel Dekker, New York, 1982).
J. H. Bachman, F. W. Sellers, M. P. Wagner andR. F. Wolf,Rubb. Chem. Technol. 32 (1959) 1286.
A. I. Medalia andF. A. Heckman,Carbon 7 (1969) 567.
D. Rivin,Rubb. Chem. Technol. 32 (1959) 1286.
T. P. Russell,J. Polym. Sci., Polym. Phys. Ed. 22 (1984) 1105.
Idem, J. Appl. Cryst. 16 (1983) 473.
J. S. Lin, R. W. Hendricks, L. A. Harris andC. S. Yust,ibid. 11 (1978) 621.
P. W. Schmidt, C. Y. Kwak andM. Ralliat,J. Amer. Chem. Soc. 28 (1984) 75.
J. Gonzales, I. L. Torriani andC. A. Luengo,J. Appl. Cryst. 15 (1982) 251.
D. S. Brown, F. P. Warner andR. E. Wetton,Polymer 13 (1972) 575.
M. E. Myers andD. McIntyre,Polym. Eng. Sci. 13 (1973) 176.
S. Kaneko, J. E. Frederick andD. McIntyre,J. Appl. Polym. Sci. 26 (1981) 4175.
O. Glatter andO. Kratky, “Small-Angle X-ray Scattering” (Academic Press, New York, 1982).
C. G. Vonk,J. Appl. Cryst. 8 (1975) 340.
A. Guinier andG. Fournet, “Small-Angle Scattering of X-rays” (Wiley, New York, 1955).
L. E. Alexander, “X-ray Diffraction Methods in Polymer Science” (Wiley, New York, 1969).
O. Kratky,Prog. Biophys. 13 (1963) 105.
C. G. Vonk,J. Appl. Cryst. 9 (1976) 433.
P. W. Schmidt, C. G. Weil andO. Brill, “X-ray and Electron Methods of Analysis” (Plenum, New York, 1968).