Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Kiểm tra tự động khuyết tật cho LCD sử dụng phân tích giá trị riêng
Tóm tắt
Màn hình tinh thể lỏng transistor mỏng (TFT-LCD) ngày càng trở nên phổ biến và chiếm ưu thế trong vai trò thiết bị hiển thị. Các khuyết tật bề mặt trên các panel TFT không chỉ gây ra sự cố hiển thị mà còn dẫn đến sự cố điện và mất chức năng hoạt động của LCD. Trong bài báo này, chúng tôi đề xuất một phương pháp toàn cầu cho việc kiểm tra hình ảnh tự động các khuyết tật vi mô trên bề mặt panel TFT. Vì cấu trúc hình học của bề mặt panel TFT liên quan đến các yếu tố liên tiếp theo chiều ngang và chiều dọc, nó có thể được phân loại là một kết cấu cấu trúc trong hình ảnh. Phương pháp đề xuất không dựa vào các đặc điểm địa phương của các kết cấu. Nó dựa trên một sơ đồ tái tạo hình ảnh toàn cục sử dụng phân tích giá trị riêng (SVD). Bằng cách coi hình ảnh như một ma trận các điểm ảnh, các giá trị riêng trên ma trận chéo đã phân tích đại diện cho các mức độ chi tiết khác nhau trong hình ảnh có kết cấu. Bằng cách chọn các giá trị riêng thích hợp đại diện cho kết cấu nền của bề mặt và tái tạo ma trận mà không có các giá trị riêng đã chọn, chúng tôi có thể loại bỏ các mẫu kết cấu lập lại, tuần hoàn trong hình ảnh và giữ lại các anomali trong hình ảnh đã phục hồi. Trong các thí nghiệm, chúng tôi đã đánh giá nhiều loại khuyết tật vi mô bao gồm lỗ kim, vết xước, hạt và dấu vân tay trên bề mặt panel TFT, và kết quả cho thấy phương pháp đề xuất là hiệu quả cho việc kiểm tra khuyết tật LCD.
Từ khóa
#LCD #khuyết tật #kiểm tra tự động #phân tích giá trị riêng #hình ảnhTài liệu tham khảo
Cagnoli B, Ulrych TJ (2001) Singular value decomposition and wavy reflections in ground-penetrating radar image of base surge deposits. J Appl Geophys 48:175–182
Popesuc BP, Pesquet JC, Petropulu AP (2001) Joint singular value decomposition-a new tool for separable representation of image. IEEE International Conference on Image Processing 2, pp 569–572
Lin CS, Wu WZ, Lay YL, Chang MW (2001) A digital image-based measurement system for a LCD backlight module. Opt Laser Technol 33:499–505
Anderson DR, Sweeney DJ, Williams TA (2002) Statistics for business and economics. South-Western, Cincinnati, OH
Henly FJ, Addiego G (1991) In-line functional inspection and repair methodology during LCD panel fabrication. 1991 SID Symposium Digest Paper 32:686–688
Strang G (1998) Introduction to linear algebra. Wellesley-Cambridge, Wellesley, MA
Jeff H (2000) Electro-optics technology tests flat-panel displays. Laser Focus World 36:271–276
Luo JH, Chen CC (1994) Singular value decomposition for texture analysis. Proceedings of SPIE-The International Society of Optical Engineering, vol. 2298, Applications of Digital Image Processing XVII, San Diego, CA, pp 407–418
Wei JJ, Chang CJ, Chou NK, Jan GJ (2001) ECG data compression using truncated singular value decomposition. IEEE Trans Inf Technol Biomed 5:290–299
Konstantinides K, Yovanof GS (1995) Application of SVD based spatial filtering to video sequences. IEEE International Conference on Acoustics, Speech and Signal Processing 4, Detroit, MI, pp 2193–2196
Konstantinides K, Natarajan B, Yovanof GS (1997) Noise estimation and filtering using block-based singular value decomposition. IEEE Trans Image Process 6:479–483
Nakashima K (1994) Hybrid inspection system for LCD color filter panels. Proceedings of the 10th International Conference on Instrumentation and measurement Technology, Hamamatsu, pp 689–692
Kvaal K, Wold JP, Indahl UG, Baardseth P, Naes T (1998) Multivariate feature extraction from textural image of bread. Chemometrics Intell Lab Syst 42:141–158
Chung KL, Shen CH, Chang LC (2002) A novel SVD- and VQ-based image hiding scheme. Patt Recogn Lett 22:1051–1058
Song LP, Zhang SY (1999) Singular value decomposition–based reconstruction algorithm for seismic travel time tomography. IEEE Trans Image Process 8:1152–1154
Ibrahim MA, Hussein AWF, Mashali SA, Mohamed AH (1998) A blind image restoration system using higher-order statistics and random transform. IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems 3, Lisboa, Portugal, pp 523–530
Petrou M, Bosdogianni P (1999) Image processing. Wiley, New York
Chen PO, Chen SH, Su FC (2000) An effective method for evaluating the image-sticking effect of TFT-LCDs by interpretative modeling of optical measurements. Liq Crystals 27:965–975
Waldemar P, Ramstad TA (1997) Hybrid KLT-SVD image compression. Proceedings of IEEE International Conference on Acoustics, Speech, and Signal, Munich, 4, pp 2713–2716
Steriti RJ, Fiddy MA (1993) Regularized image reconstruction using SVD and a neural network method for matrix inversion. IEEE Trans Signal Process 41:3074–3077
Liu R, Tan T (2002) An SVD-based watermarking scheme for protecting rightful ownership. IEEE Trans Multimedia 4:121–128
Chandrasekaran S, Manjunath BS, Wang YF, Winkeler J, Zhang H (1997) An eigenspace update algorithm for image analysis. Graph Model Image Process 59:321–332
Hatipogly S, Mitra SK (1998) Texture feature extraction using Teager filters and singular value decomposition. International Conference on Consumer Electronics, Los Angeles, CA, pp 440–441
Sokolov SM, Treskunov AS (1992) Automatic vision system for final test of liquid crystal display, Proceedings of the 1992 IEEE International Conference on Robotics and Automation, Nice, , pp 1578–1582
Kido T (1992) In-processing inspection technique for active-matrix LCD panels. Proceedings of IEEE International Test Conference, Baltimore, MD, pp 795–799
Kido T, Kishi N, Takahashi H (1995) Optical charge-sensing method for testing and characterizing thin-film transistor arrays. IEEE J Sel Topic Quantum Electron 1:993–1001
Selivanov VV, Lecomte R (2001) Fast PET image reconstruction based on SVD decomposition of the system matrix. IEEE Trans Nucl Sci 48:761–767
Hoge WS, Miller EL, Lev-Ari H, Brooks DH, Karl WC, Panych LP (2001) An efficient region of interest acquisition method for dynamic magnetic resonance imaging. IEEE Trans Image Process 10:1118–1128