Phân tích và tìm kiếm tập lệnh thử nghiệm tối thiểu của bộ xử lý tín hiệu số cho điều khiển động cơ

Journal of Shanghai University (English Edition) - Tập 9 - Trang 147-152 - 2005
Wei Yan1, Jia-lin Cao1, You-min Gong1
1Microelectronic Research and Development Center, School of Electromechanical and Automation, Shanghai University, Shanghai, P.R. China

Tóm tắt

Sự tương đối của các lệnh trong bộ điều khiển động cơ (MCDSP) trong thiết kế được phân tích. Một phương pháp để thu được tập lệnh tối thiểu thay cho tập lệnh hoàn chỉnh trong quá trình sinh ra các quy trình thử nghiệm được đưa ra trong các hệ số biểu diễn của bộ xử lý giữa các vi điều khiển và các lệnh của MCDSP.

Từ khóa

#bộ xử lý tín hiệu số #điều khiển động cơ #tập lệnh tối thiểu #quy trình thử nghiệm

Tài liệu tham khảo

Mayberry M, Johnson J, Shahriari N, et al. Realizing the benefits of structural test for Intel microprocessors [A]. International Test Conference[C]. 2002, 456–463. Golshan F. Test and on-line debug capabilities of IEEE Std 1149.1 in UltraSPARC™-III microprocessor[A]. International Test Conference, Proceedings[C]. 2000, 141–150. Bhavsar D, Tan R. Observability register architecture for efficient production test and debug of VLSI circuits [A]. Fourteenth International Conference on VLSI Design [C]. 2001, 385–390. Corno F, Cumani G, Sonza Reorda M, et al. Fully automatic test program generation for microprocessor cores [A]. Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition[C]. 2003, 1006–1011. Hwang S, Abraham J A. Test data compression and test time reduction using an embedded microprocessor [J]. IEEE Trans. on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems, 2003, 11(5): 853–862. Hu Wei-wu, Tang Zhi-min. Architecture of Godson-1 processor[J]. China Journal of Computer, 2003, 26(4): 385–396. Thatte S M, Abraham J A, Test generation for microprocessors [J]. IEEE Trans. on Computers, 1980, C-29 (6): 429–441. Brahme D, Abraham J A. Functional testing of microprocessors[J]. IEEE Trans. on Computers, 1984, C 33 (6): 475–485. El-Sayed, Weiss S, Smith J. Microprocessors functional testing techniques[J]. IEEE Trans. on Computer-Aided Design, 1989, 8(3):316–318. Zhang Shen-bin. Testibility Design of High-perform CPU [D]. Doctoral Dissertation, Northwest Industrial University, Xi’an, China, 1989, 51–53 (in Chinese).