Mô hình dịch pha chính xác cho trạng thái hình ảnh trên bề mặt kim loại có lớp phủ kim loại kiềm

Trong khuôn khổ lý thuyết phản xạ nhiều lần, một giải pháp chính xác được phát triển cho các trạng thái hình ảnh và bề mặt trên kim loại điện tử tự do gần với thế năng lớp phủ phẳng. Các điều kiện phù hợp với hàm sóng được sử dụng để xác định sự dịch pha vòng tròn tại một năng lượng cho trước, và một điều kiện lượng tử giống như Bohr được áp dụng để xác định năng lượng trạng thái liên kết. Ngoài ra, một mô hình được phát triển để xác định khối lượng hiệu quả của các electron trạng thái hình ảnh trong sự hiện diện của lớp phủ. Các năng lượng liên kết thu được từ các thí nghiệm phát xạ photon hai photon trên Na/Cu(111) rất khớp với các kết quả đã tính toán.