Một cách tiếp cận để dự đoán tổn thất công suất động của mạng kết nối liên kết bị ghép trong mạch logic CMOS động

Gang Huang1, Huazhong Yang1, Rong Luo1, Hui Wang1
1Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing, China

Tóm tắt

Trong các mạch tích hợp (IC) vi mô sâu (DSM), các tụ ghép giữa các kết nối trở nên trở thành yếu tố chủ đạo hơn so với các tụ đất. Kết quả là, tổn thất công suất động của một nút không còn chỉ liên quan đến tín hiệu trên nút đó, mà còn phụ thuộc vào tín hiệu của các nút láng giềng thông qua các tụ ghép. Do đó, với sự hạn chế trong việc xử lý các mạng có tụ ghép, các công trình trước đây về ước lượng công suất đang phải đối mặt với những thách thức nghiêm trọng và cần được cải thiện. Bài báo này đề xuất và chứng minh một phương pháp đơn giản và nhanh chóng để dự đoán tổn thất công suất động của các mạng kết nối liên kết bị ghép: một tụ ghép trong các mạch logic CMOS động được tách rời và ánh xạ vào một tế bào tương đương chứa một cổng XOR và một tụ đất, và toàn bộ mạch sau khi ánh xạ, tiêu thụ công suất giống như mạch ban đầu, có thể dễ dàng được quản lý bởi các công cụ ước lượng công suất cấp cổng thông dụng. Bài báo này cũng điều tra phương pháp hệ số tương quan (CCM). Với các xác suất tín hiệu và các hệ số tương quan giữa các tín hiệu, công suất động của các mạng kết nối có thể được tính toán bằng cách sử dụng CCM. Có thể chứng minh rằng phương pháp tách rời và CCM cho kết quả giống nhau, nghĩa là phương pháp tách rời ngầm giữ lại các đặc tính tương quan giữa các tín hiệu và không có mất độ chính xác trong quá trình tách rời. Hơn nữa, bài báo cũng chỉ ra rằng các tụ ghép trong các mạch CMOS tĩnh có thể được tách rời và ánh xạ vào một tế bào tương đương chứa một khối logic phức tạp hơn, và công suất có thể được thu được bằng phương pháp xác suất cho các mạch logic CMOS động.

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

Freund, R. W., Feldmann, P., The SyMPVL algorithm and its applications to interconnect simulation, in Numer. Anal. Manuscript, Murray Hill, NJ: Bell Labs., June 1997.

Odabasioglu, A., Celik, M., Pileggi, L. T., PRIMA: Passive reducedorder interconnect macromodeling algorithm, IEEE Trans. Computer- Aided Design, Aug. 1998, 17: 645–654.

Cai Xia, Yang Huazhong, Jia Yaowei et al., RSPICE: a fast and robust timing simulator for digital MOS VLSI, IEICE Trans. Fundamentals, Nov. 1999, E82-A(11): 2492–2498.

Yang Huazhong, Cai Xia, Jia Yaowei, MOS transistor model and fast timing simulator, Electronics Letters, April, 1999, 35(7): 561–563.

Kayssi, A. I., Sakallah, K. A., Mudge, T. N., The impact of signal transition time on path delay computation, IEEE Transaction on Circuit and System-II: Analog and Digital Signal Processing, May 1993, 40(5): 302–309.

Franzini, B., Forzan, C., Pandini, D. et al., Crosstalk aware static timing analysis: A two step approach, Proc. IEEE Int. Sym. Quality Electr. Design, San Jose, CA, March 2000, 499–503.

Gao, D. S., Yang, A. T., Kang, S., Modelling and simulation of interconnection delays and crosstalk in high-speed intergrated circuits, IEEE Trans. Circuits Syst., Jan. 1990, SC-37(1): 1–9.

Chen Bin, Yang Huazhong, Wang Hui, Noise estimation of deep sub-micron integrated circuits, Science in China, Ser. F, 2001, 44(5): 396–400.

Chen, P., Keutzer, K., Towards true crosstalk noise analysis, IEEE/ACM Int. Conf. Comp-Aided Design, San Jose, CA, Nov.1999, 132–137.

Ercolani, S., Favalli, M., Damiani, M. et al., Estimate of signal probability in combinational logic networks, 1989 IEEE European Test Conf., Paris, April, 1989, 132–138.

Najm, F., A survey of power estimation in VLSI circuits, IEEE Tran. On VLSI Systems, Nov. 1994, 2(4): 446–455.

Pedram, M., Power simulation and estimation in VLSI circuits, in The VLSI Handbook (ed. Chen, W.-K.), Boca Raton: CRC Press and New York: IEEE Press, 1999, 18-1–18-23.

Najm, F., Transition density, a new measure of activity in digital circuit, IEEE Trans. Computer-Aided Design, Feb. 1993. 12: 310–323.