Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Một thiết bị đơn giản và hiệu quả cho các nghiên cứu in situ về hiệu ứng Kerr quang bề mặt trong chân không siêu cao
Tóm tắt
Một thiết bị đơn giản và giá thành rẻ, khá nhạy với việc nghiên cứu các thuộc tính từ của các phim từ tính rất mỏng (0.5–0.6 nm) bằng phương pháp hiệu ứng Kerr quang bề mặt (SMOKE) trong điều kiện chân không siêu cao (UHV) được mô tả. Hệ thống này được thiết kế để đo cả hiệu ứng Kerr dọc và hiệu ứng Kerr ngang. Hệ thống điện từ kín chân không đặc biệt của thiết bị SMOKE hoàn toàn tương thích với các phương pháp nhạy bề mặt khác. Khi sử dụng một hệ thống từ bên ngoài bổ sung, cùng một hệ thống quang học và điện tử có thể được áp dụng cho các nghiên cứu ex situ. Các ví dụ minh họa độ nhạy cao của thiết lập này và hiệu quả của nó trong việc nghiên cứu độ dị hướng từ được đưa ra.
Từ khóa
#hiệu ứng Kerr quang bề mặt #chân không siêu cao #phim từ tínhTài liệu tham khảo
Qui, Z.Q. and Bader, S.D., J. Magn. Magn. Mater., 1999, vol. 200, p. 664.
Qui, Z.Q. and Bader, S.D., Rev. Sci. Instrum., 2000, no. 3, p. 1243.
Isella, G., Marcon, M., Bertacco, R., et al., J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom., 2002, vol. 122, p. 221.
Krinchik, G.S. and Shamatov, U.N., Solid State Phys., 1978, no. 11, p. 20.