Công bố khoa học
Công cụ trích dẫn
Công bố khoa học
Trích dẫn
Tạp chí khoa học
Cơ quan đơn vị
Quản lý tài khoản
Danh mục đã lưu
Đăng xuất
A profile-fitting procedure for analysis of broadened X-ray diffraction peaks. I. Methodology
Journal of Applied Crystallography
- Tập 21 Số 5
- Trang 536-542
- 1988
Stefano Enzo
,
G. Fagherazzi
,
A. Benedetti
,
Stefano Polizzi
Tóm tắt
Từ khóa
Đi đến bài gốc
Trích dẫn
Lưu lại
Báo lỗi
Tài liệu tham khảo
Thông tin
DOI
:
10.1107/s0021889888006612
Thông tin xuất bản
Nhà xuất bản:
Journal of Applied Crystallography
Tập/Số:
Tập 21 Số 5
Trang:
536-542
Thông tin tác giả