A profile-fitting procedure for analysis of broadened X-ray diffraction peaks. I. Methodology

Journal of Applied Crystallography - Tập 21 Số 5 - Trang 536-542 - 1988
Stefano Enzo, G. Fagherazzi, A. Benedetti, Stefano Polizzi

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo