A comparison of least-squares and Bayesian minimum risk edge parameter estimation

Pattern Recognition Letters - Tập 20 - Trang 1397-1405 - 1999
Nanno J. Mulder1, Ali A. Abkar2
1Department of Electrical Engineering, University of Twente, Welnahorst 39, 7531 GH Enschede, The Netherlands
2Department of Geoinformatics, International Institute for Aerospace Survey and Earth Sciences (ITC), Enschede, The Netherlands

Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Pattern Recognition Letters

Tập 20

1397-1405

Thông tin tác giả