Đánh giá các siêu tụ điện vi điện hóa dựa trên graphene

Electroanalysis - Tập 26 Số 1 - Trang 30-51 - 2014
Guoping Xiong1,2, Chuizhou Meng3,4, R. Reifenberger1,5, Pedro P. Irazoqui3,4, Timothy S. Fisher1,2
1Birck Nanotechnology Center, Purdue University, West Lafayette, IN, 47907, USA
2School of Mechanical Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA
3Center for Implantable Devices, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA
4Weldon School of Biomedical Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN 47907, USA
5Department of Physics, Purdue University, West Lafayette, IN 47907 USA

Tóm tắt

Tóm tắtSự phát triển nhanh chóng của các thiết bị điện tử thu nhỏ đã dẫn đến nhu cầu ngày càng tăng về các nguồn năng lượng vi tích điện có thể sạc lại với hiệu suất cao. Trong số các nguồn khác nhau, siêu tụ điện vi điện hóa hoặc microsupercapacitors cung cấp mật độ công suất cao hơn so với các dạng tương ứng và đang thu hút sự quan tâm ngày càng tăng từ cộng đồng nghiên cứu và kỹ thuật. Cho đến nay, có rất ít công trình nghiên cứu được thực hiện về việc tích hợp microsupercapacitors lên chip hoặc các chất nền linh hoạt. Bài đánh giá này cung cấp cái nhìn tổng quan về nghiên cứu liên quan đến microsupercapacitors, với sự nhấn mạnh đặc biệt vào các điện cực dựa trên graphene tiên tiến nhất và các thiết bị rắn trên cả chất nền linh hoạt và cứng. Những ưu điểm, nhược điểm và hiệu suất của microsupercapacitors dựa trên graphene được tóm tắt và các xu hướng mới trong nguyên liệu, quy trình chế tạo và bao bì được xác định.

Từ khóa

#siêu tụ điện vi điện hóa #graphene #mật độ công suất #công nghệ tùy chỉnh

Tài liệu tham khảo

B. E. Conway Electrochemical Supercapacitors: Scientific Fundamentals and Technological Applications Kluwer Academic/Plenum Publishers New York1999.

10.1038/nmat2297

H. E.Becker U.S. Patent 1957 2 800 616 (to General Electric).

D. I.Boos U.S. Patent 1970 3 536 963 (TO Standard Oil SOHIO).

10.1149/1.2085829

10.1016/S0013-4686(00)00354-6

10.1002/chem.200800639

10.1021/nn203260w

10.1021/jp107125m

10.1021/ja9044554

10.1021/jp902225n

10.1021/nn901916m

10.1039/C1CS15060J

10.1016/j.jpowsour.2006.02.065

10.1109/TNSRE.2005.853625

10.1016/S0165-0270(00)00263-6

10.1016/j.microrel.2008.03.007

10.1016/j.jpowsour.2008.08.061

Beidaghi M., 2010, P. Soc. Photo‐Opt. Ins., 7679, 76791G

10.1016/0167-2738(96)00303-7

10.1117/12.884350

10.1002/er.1281

10.1088/0964-1726/17/4/043001

10.1002/adma.200900470

10.1021/cr020740l

10.1038/nnano.2010.162

10.1016/S0008-6223(00)00183-4

10.1039/b618139m

10.1039/c000417k

Shukla A. K., 2000, Curr. Sci. India, 79, 1656

10.1016/j.jpowsour.2009.01.052

10.1016/j.jpowsour.2006.12.093

10.1021/nl2013828

10.1021/nl1019672

10.1016/j.elecom.2008.11.005

10.1016/j.jpowsour.2008.10.096

10.1016/j.jpowsour.2005.06.002

10.1149/1.1836908

10.1126/science.1219134

10.1126/science.1213003

10.1038/ncomms2446

10.1016/j.jpcs.2003.08.023

10.1002/adma.200904349

10.1021/nl8038579

10.1021/nl802558y

10.1021/cm049649j

10.1021/nl062263i

10.1016/j.jpowsour.2007.02.076

10.1088/0957-4484/21/34/345701

10.1039/c1cc13474d

10.1016/j.carbon.2012.01.056

10.1016/j.jpowsour.2010.01.046

10.1016/S0378-7753(01)00613-9

10.1016/S0378-7753(00)00485-7

10.1016/j.elecom.2007.09.015

10.1021/nn100856y

10.1016/j.jpowsour.2005.10.090

10.1007/s00339-005-3397-8

10.1243/09576509JPE861

10.1007/s10008-003-0395-7

10.1016/0378-7753(94)87009-8

10.1016/j.eurpolymj.2005.09.017

10.1016/0079-6786(87)90003-3

10.1016/S0013-4686(02)00744-2

10.1016/j.electacta.2004.02.053

10.1021/nl200225j

10.1088/0957-4484/23/6/065401

10.1149/1.2985625

10.1088/0960-1317/18/7/073001

10.1007/s00542-011-1415-7

10.1016/j.mee.2008.12.010

10.1016/j.jpowsour.2010.05.012

10.1016/j.jpowsour.2004.02.003

10.1126/science.1184126

10.1063/1.2177639

10.1039/c003215h

10.1002/1521-4109(200208)14:15/16<1041::AID-ELAN1041>3.0.CO;2-8

10.1016/j.jpowsour.2011.08.007

10.1039/B801151F

10.1016/j.jpowsour.2005.05.029

10.1016/S0378-7753(98)00257-2

10.1016/j.jpowsour.2011.02.050

10.1038/nnano.2011.110

10.1016/j.jpowsour.2009.08.085

10.1016/S0378-7753(02)00108-8

10.1016/S0378-7753(98)00038-X

10.1016/0013-4686(95)00416-5

10.1016/S0378-7753(03)00590-1

10.1016/j.carbon.2005.09.008

10.1016/S0378-7753(96)80015-2

10.1149/1.1650835

10.1016/j.jpowsour.2010.09.050

10.1016/j.electacta.2011.08.054

10.1109/TNANO.2010.2049500

10.1016/S0378-7753(01)00736-4

10.1021/nl800925j

10.1016/j.elecom.2008.05.007

10.1038/354056a0

10.1063/1.353358

10.1016/0038-1098(92)90325-4

10.1038/382054a0

10.1038/381678a0

10.1016/0008-6223(95)00023-7

10.1016/j.jpowsour.2007.07.060

10.1149/1.1393557

10.1126/science.1132195

10.1002/anie.200704894

Jiang Y. Q., 2009, IEEE 22nd Int. Conf. on MEMS, 587

Shukla A. K., 2008, Curr. Sci. India, 94, 314

10.1021/cm070991g

10.1126/science.1102896

10.1039/C1CS15078B

10.1016/j.carbon.2010.09.042

10.1016/j.carbon.2010.06.047

10.1021/nl102661q

10.1021/jp907979v

10.1021/nn204200w

10.1126/science.1216744

10.1021/jp904396j

10.1002/adfm.201201292

10.1021/nl3034976

10.1063/1.3638468

10.1126/science.1200770

10.1016/S0008-6223(02)00279-8

Miller L. M., 2009, Proc. IEEE ECCE, 30, 2627

10.1021/nn1000035

10.1039/c1cc10675a

10.1021/nn900297m

10.1016/0167-2738(96)00070-7

10.1016/S0378-7753(98)00258-4

10.1021/nl104205s

10.1021/nn100592d

10.1038/nnano.2011.13

10.1021/nl061576a

10.1016/j.electacta.2010.05.015

Arnold C. B., 2002, Mater. Res. Soc. Symp. P., 698, 275

10.1117/12.470641

10.1039/c0nr00990c

10.1002/adma.201004134

10.1016/j.jpowsour.2010.06.084

10.1016/S0378-7753(03)00669-4

10.1002/aenm.201100488

10.1021/j100176a007

10.1016/j.jpowsour.2007.05.103

10.1016/j.electacta.2006.09.067

10.1021/cr941181o

10.1016/S0378-7753(02)00485-8

10.1088/0957-4484/19/21/215710

10.1016/j.elecom.2008.09.008

10.1021/nl901852h

10.1002/adfm.200700518

10.1016/j.carbon.2009.09.066

10.1002/adfm.201101989

10.1002/1616-3028(20020805)12:8<489::AID-ADFM489>3.0.CO;2-X

10.1126/science.1194372

10.1016/j.jpowsour.2009.06.004

10.1149/1.3099325

10.1016/j.jpowsour.2012.11.040

10.1016/j.diamond.2012.05.002

Arnold C. B., 2002, Mater. Res. Soc. Symp. Proc., 698, 3

10.1116/1.1565348

10.1016/j.jpowsour.2009.04.063

10.1149/1.2985625

10.1016/j.jpowsour.2006.07.073

10.1039/c0nr00990c

10.1021/cm0101632

Le H. P., 1998, J. Imaging Sci. Techn., 42, 49, 10.2352/J.ImagingSci.Technol.1998.42.1.art00007

10.1063/1.3574920

10.1021/la802182y

10.1088/0957-4484/19/17/175201

10.1088/0960-1317/17/5/017

10.1049/mnl.2010.0109

10.1016/j.aca.2008.10.070

10.1021/la9809123

10.1039/b820459d

10.1016/S0928-4931(97)00056-8

10.1063/1.111350

10.1080/07388550600978358

10.1038/nphoton.2008.47

10.1038/35089130

10.1063/1.1555693

10.1117/12.470642

10.1016/j.nantod.2009.12.009

10.1021/ja960151v

10.1021/cm9602196

10.1021/nn100780v

Thông tin
Thông tin xuất bản

Electroanalysis

Tập 26 Số 1

30-51

Thông tin tác giả