Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Thiết bị phân tích điện tử quang picosecond để phát hiện bức xạ đồng bộ
Tóm tắt
Một thiết bị phân tích thế hệ mới đã được phát triển dựa trên ống chuyển đổi hình ảnh PIF-01 đã được điều chỉnh để chẩn đoán thời gian của chùm hạt mang điện trong các máy gia tốc. Các mẫu thử nghiệm của thiết bị phát hiện đã được sản xuất. Độ phân giải thời gian đạt được trong các thử nghiệm động tại cơ sở laser là ~2 ps, tốt hơn hơn một bậc so với thông số tương ứng của thiết bị phân tích LI-602 hiện có. Các mẫu thử nghiệm của thiết bị phân tích mới đã được thử nghiệm thành công trong các thí nghiệm tại máy gia tốc Metrology Light Source (MLS) (Berlin, Đức).
Từ khóa
#thiết bị phân tích #bức xạ đồng bộ #chẩn đoán thời gian #máy gia tốcTài liệu tham khảo
Efimov, V.M., Iskol’dskii, A.M., and Nesterikhin, Yu.E., Elektronno-opticheskaya fotos”emka v fizicheskom eksperimente (Electron-Optical Photography for Physical Experiment), Moscow: Nauka, 1978.
Lozovoi, V.I., Vorobiev, N.S., Malov, M.N., Prokhorenko, E.A., and Schelev, M.Ya., Proc. 22nd Int. Congress on High-Speed Photography and Photonics ICHSPP, Santa Fe, 1996, Berlin, Bellingham, Washington: SPIE, 1996, vol. 2869, p. 179. https://doi.org/10.1117/12/273451 https://doi.org/10.1117/12/273451
Vorobiev, N.S., Gornostaev, P.B., Lozovoi, V.I., Smirnov, A.V., Shashkov, E.V., and Shchelev, M.Ya., Instrum. Exp. Tech., 2016, vol. 59, no. 4, p. 551. https://doi.org/10.1134/S0020441216030246
Degtyareva, V.P., Kulikov,Yu.V., Monastyrski, M.A., Platonov, V.N., Postovalov, V.E., Prokhorov, A.M., Ulasyuk, V.N., Ushakov, V.K., and Schelev, M.Ya., Proc. 16th Int. Congress on High Speed Photography and Photonics, Strasbourg, 1985, Proc. SPIE, vol. 0491. https://doi.org/10.1117/12.967917
Zinin, E.I., Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., 1983, vol. 208, nos. 1–3, p. 439. https://doi.org/10.1016/0167-5087(83)91165-1
Ageeva, N.V., Ivanova, S.R., Komel’kov, A.S., Levina, G.P., Makushina, V.A., Mikhal’kov, Y.M., and Skaballanovich, T.A., Optoelectron., Instrum. Data Process., 2016, vol. 52, no. 3, p. 298.
Anchugov, O.V., Dorokhov, V.L., Kurkin, G.Ya., Zinin, E.I., Molyavin, P.A., Meshkov, O.I., Shvedov, D.A., Petrozhitskii, A.V., Gornostaev, P.B., Zarovskii, A.I., Shashkoff, E.V., Smirnov, A.V., and Shchelev, M.Ya., Optoelectron., Instrum. Data Process., 2016, vol. 52, no. 3, p. 304.
Feikes, J., Von Hartrott, M., Ries, M., Schmid, P., Wüstefeld, G., Hoehl, A., Klein, R.,Müller, R., and Ulm, G., Phys. Rev. Spec. Top.–Accel. Beams, 2011, vol. 14, p. 030705. https://doi.org/10.1103/PhysRevSTAB.14.030705
Ries, M., PhD Thesis, Berlin: Humboldt-Universität zu Berlin, 2014. http://www.iaea.org/inis/collection/ NCLCollectionStore/_Public/46/051/46051957.pdf.