Nội dung được dịch bởi AI, chỉ mang tính chất tham khảo
Sử dụng phân tích độ rộng đỉnh tán xạ X-ray để đặc trưng hóa bột Al2O3 đã nghiền
Tóm tắt
Độ rộng đỉnh tán xạ X-ray đã được sử dụng để nghiên cứu hành vi nghiền của một số bột alumina thương mại. Kết quả cho thấy hành vi nghiền phụ thuộc vào kích thước hạt ban đầu, các khuyết tật bên trong của hạt và chất lỏng nghiền được sử dụng. Các nghiên cứu về độ rộng đỉnh cho phép tách biệt các tác động của việc nghiền đối với việc giảm kích thước tinh thể và tăng năng lượng tích trữ. Tác động của hai tham số này đã được tách biệt bằng phương pháp hiệu chỉnh Cauchy. Việc đo kích thước hạt của các bột alumina chưa nghiền trong kính hiển vi điện tử truyền qua đã được sử dụng để xác định rằng phương pháp Cauchy đưa ra ước lượng chính xác nhất về kích thước tinh thể. Cả kích thước tinh thể alumina và năng lượng tích trữ đều được kỳ vọng sẽ tăng cường quá trình kết khối bột thành mật độ cao. Các nỗ lực được thực hiện để dự đoán khả năng kết khối của các vật liệu nghiên cứu dựa trên các tham số trên.
Từ khóa
#đỉnh tán xạ X-ray #bột alumina #hành vi nghiền #kích thước tinh thể #năng lượng tích trữ #kết khối.Tài liệu tham khảo
G. Naeser,J. Powder Metall. 6 (1970) 3.
T. Allen,Powder Metall. 26 (1983) 95.
H. P. Klug andL. E. Alexander, “X-ray diffraction procedures for polycrystalline and amorphous materials”, 2nd edn. (Wiley, New York, 1974).
G. Ziegler,Powder Met. Int. 10 (1978) 70.
Idem, Keram. Z. 33 (1981) 287.
Idem, ibid. 33 (1981) 602.
T. Ekström andE. Rosén, Sandvik Lab Report 2878 (1982).
P. R. Rao andR. R. Anantharaman,Z. Metallkde 54 (1963) 658.
T. R. Anantharaman andJ. W. Christian,Acta Crystallogr. 9 (1956) 479.
S. J. Wilson,Proc. Brit. Ceramic Soc. 28 (1979) 281.
P. O. Snell andL. E. Larsson,Jernkont. Ann. 154 (1970) 313.
K. C. Radford,J. Mater. Sci. 18 (1983) 669.
P. A. Rehbinder andE. D. Schchukin,Surf. Sci. 3 (1972) 97.
M. Maly-Schreiber, W. Wruss, T. Ekström, G. Brandt andB. Lux,Sprechsaal 117 (1984) 11.