Defect Reconstruction Triggered Full-Color Photodetection in Single Nanowire Phototransistor

ACS Photonics - Tập 6 Số 4 - Trang 886-894 - 2019
Liang Hu1, Qiufan Liao2, Zhenyu Xu1, Jun Yuan1, Yuxuan Ke3, Yiyue Zhang1, Wenjing Zhang3, Guo Ping Wang2, Shuangchen Ruan1, Yu‐Jia Zeng1, Su‐Ting Han2
1Shenzhen Key Laboratory of Laser Engineering, College of Optoelectronic Engineering, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, People's Republic of China
2College of Electronic Science and Technology, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, People's Republic of China
3International Collaborative Laboratory of 2D Materials for Optoelectronics Science and Technology, Shenzhen University, Shenzhen, 518060, People's Republic of China

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

10.1038/ncomms16025

10.1038/nnano.2017.153

10.1002/adom.201800440

10.1038/nphoton.2009.184

10.1021/nl2034656

10.1038/s41928-018-0101-5

10.1038/ncomms5007

10.1126/science.1060367

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10.1039/C7NR08125A

10.1002/smll.201704053

10.1021/acsnano.7b03560

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10.1002/adom.201700206

10.1021/nl070111x

10.1063/1.4891958

10.1039/c4tc00266k

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10.1002/adma.201502579

10.1021/acs.nanolett.6b04084

10.1021/acs.nanolett.7b03873

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10.1021/am1006047

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10.1021/nl0731116

10.1063/1.2337853

10.1016/S0038-1098(97)10145-4

10.1002/adom.201800196

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10.1021/acsphotonics.8b00805

10.1166/jnn.2010.2157

10.1021/la804143u

10.1002/adma.201403664

10.1002/advs.201700323

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ACS Photonics

Tập 6 Số 4

886-894

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