Ultrafast spectroscopy of carriers and excitons in semiconductor microcavities

Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials - Tập 33 - Trang 155-160 - 1996
T.B. Norris1, J.K. Rhee1, R. Lai1, D.S. Citrin1, M. Nishioka2, Y. Arakawa2
1Center for Ultrafast Optical Science, University of Michigan, 2200 Bonisteel Blvd., Ann Arbor, MI 48109-2099, U.S.A.
2Institute of Industrial Science, University of Tokyo, 7-22-1 Roppongi, Minato-ku, Tokyo 153, Japan

Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials

Tập 33

155-160

Thông tin tác giả