A stochastic patent citation analysis approach to assessing future technological impacts

Elsevier BV - Tập 79 - Trang 16-29 - 2012
Changyong Lee1, Yangrae Cho1, Hyeonju Seol2, Yongtae Park1
1Seoul National University, San 56-1, Shillim-Dong, Kwanak-Gu, Seoul 151–742, South Korea
2Korea Air Force Academy, 335-1, Ssangsu-ri, Namil-myeon, Cheongwon-gun, Chungbuk 363-849, South Korea

Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Elsevier BV

Tập 79

16-29

Thông tin tác giả