High-resolution Kelvin probe microscopy in corrosion science: Scanning Kelvin probe force microscopy (SKPFM) versus classical scanning Kelvin probe (SKP)

Electrochimica Acta - Tập 53 - Trang 290-299 - 2007
Michael Rohwerder1, Florin Turcu1
1Max-Planck-Institut für Eisenforschung, Düsseldorf, Germany

Tài liệu tham khảo

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