Analysis of sedimentary organic materials by scanning electron microscopy: the application of backscattered electron imagery and light element X-ray microanalysis

Organic Geochemistry - Tập 18 - Trang 431-446 - 1992
A.N. Bishop1, A.T. Kearsley1, R.L. Patience2
1Department of Geology, Oxford Polytechnic, Gipsy Lane, Headington, Oxford OX3 0BP, USA
2Exploration Technology Branch, BP Research Centre, Chertsey Road, Sunbury-on-Thames, Middlesex TW16 7LN, U.K.

Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

Organic Geochemistry

Tập 18

431-446

Thông tin tác giả