SnO[sub 2] Pinning: An Approach to Enhance the Electrochemical Properties of Nanocrystalline CuFe[sub 2]O[sub 4] for Lithium-Ion Batteries

The Electrochemical Society - Tập 9 Số 8 - Trang A390 - 2006
R. Kalai Selvan1, N. Kalaiselvi1, C.O. Augustin1, Chil‐Hoon Doh2
1Central Electrochemical Research Institute, Karaikudi 630 006, Tamil Nadu, India
2Korea Electrotechnology Research Institute Changwon 641–120 Republic of Korea

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

10.1002/adma.200401593

10.1039/b105058n

10.1038/35035045

10.1016/j.electacta.2004.08.043

10.1149/1.1390715

10.1016/j.elecom.2004.03.009

10.1149/1.1563094

10.1006/jssc.1994.1360

Doh, 2004, Electrochem. Commun., 6, 965, 10.1016/j.elecom.2004.07.011

Satya Kishore, 2004, J. Solid State Chem., 77, 3981, 10.1016/j.jssc.2004.07.026

10.1016/j.elecom.2004.08.014

Son, 2004, Electrochem. Commun., 6, 990, 10.1016/j.elecom.2004.07.007

10.1002/adfm.200400429

Chu, 2004, Electrochim. Acta, 49, 4915, 10.1016/j.electacta.2004.06.012

10.1016/S1388-2481(02)00520-9

10.1149/1.1760576

Sharma, 2003, J. Power Sources, 124, 204, 10.1016/S0378-7753(03)00670-0

10.1002/adfm.200390013

10.1088/0022-3727/36/13/202

10.1016/S1369-7021(04)00398-0

Li, 2002, Chem. Mater., 14, 203

R. Kalai Selvan, C. O. Augustin, C. Sanjeeviraja, V. G. Pol, and A. Gedanken , Mater. Chem. Phys., In press.

Pu, 2005, Electrochim. Acta, 50, 4140, 10.1016/j.electacta.2005.01.041

Ha, 2005, Electrochim. Acta, 50, 3764, 10.1016/j.electacta.2005.01.022

10.1021/cm0504337

10.1021/cm050724f

Si, 2005, Cryst. Growth Des., 5, 391, 10.1021/cg0497905

NuLi, 2005, J. Power Sources, 142, 292, 10.1016/j.jpowsour.2004.10.015

10.1149/1.1993388

Sharma, 2005, Chem. Mater., 17, 4700, 10.1021/cm0505042

Sivashanmugam, 2005, J. Power Sources, 144, 197, 10.1016/j.jpowsour.2004.12.047

10.1021/cm010195p

10.1021/cm048003o

Thangadurai, 2006, J. Solid State Chem., 179, 974, 10.1016/j.jssc.2005.12.025

Bhuvaneswari, 2006, Solid State Ionics, 177, 121, 10.1016/j.ssi.2005.09.011

Grigoriants, 2006, J. Power Sources, 146, 185, 10.1016/j.jpowsour.2005.03.120

Ahn, 2004, J. Phys. Chem., 108, 9815, 10.1021/jp035769n

10.1021/cm990683l

10.1021/cm021137m