A distance measure between attributed relational graphs for pattern recognition

IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics - Tập SMC-13 Số 3 - Trang 353-362 - 1983
Alberto Sanfeliu1,2, King‐Sun Fu2
1Instituto de Cibernetica, Barcelona, Spain
2School of Electrical Engineering, Purdue University, West Lafayette, IN, USA

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

Thông tin
Thông tin xuất bản

IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics

Tập SMC-13 Số 3

353-362

Thông tin tác giả