Thermal Properties and Phase Stability of Zn-Sn and Zn-In Alloys as High Temperature Lead-Free Solder

Materials Transactions - Tập 48 Số 3 - Trang 584-593 - 2007
Jae-Ean Lee1, Keun‐Soo Kim2, Katsuaki Suganuma2, Masahiro Inoue2, G. Izuta3
1Department of Adaptive Machine Systems, Osaka University,
2Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University
3Manufacturing Engineering Center, Mitsubishi Electric Corporation

Tóm tắt

Từ khóa


Tài liệu tham khảo

1) K. S. Kim, C. H. Yu, N. H. Kim, N. K. Kim, H. J. Chang and E. G. Chang: Microelectron. Reliab. <B>43</B> (2003) 757&ndash;763.

2) W. D. Zhuang, P. C. Chang, F. Y. Chou and R. K. Shiue: Microelectron. Reliab. <B>41</B> (2001) 2011&ndash;2021.

3) Y. Nagatomo, T. Nagase and S. Shimamura: J. Jpn. Inst. Electron. Packaging <B>3</B> (2000) 330&ndash;334.

4) B. F. Wolffenbuttel: Sensors and Actuators A <B>62</B> (1997) 680&ndash;686.

5) J. W. Jang, S. Hayes, J. K. Lin and D. R. Frear: J. Appl. Phys. <B>95</B> (2004) 6077&ndash;6081.

6) H. G. Song, J. P. Ahn and J. W. Morris, Jr: J. Electron. Mater. <B>30</B> (2001) 1083&ndash;1087.

7) J. W. R. Tew, X. Q. Shi and S. Yuan: Mater. Lett. <B>58</B> (2004) 2695&ndash;2699.

8) J. N. Lalena, N. F. Dean and M. W. Weiser: J. Electron. Mater. <B>31</B> (2002) 1244&ndash;1249.

9) S. Terashima, T. Uno, E. Hashino and K. Tatsumi: Mater. Trans. <B>42</B> (2001) 803&ndash;808.

10) J. H. Kim, S. W. Jeong and H. M. Lee: Mater. Trans. <B>43</B> (2002) 1873&ndash;1878.

11) S. S. Kim, J. H. Kim, S. W. Booh, T. G. Kim and H. M. Lee: Mater. Trans. <B>46</B> (2005) 2400&ndash;2405.

12) M. Yokozawa, K. Hidaka, T. Ogashiwa and T. Arikawa: J. Jpn. Inst. Electron. Packaging <B>3</B> (2000) 617&ndash;620.

13) J. E. Lee, K. S. Kim, K. Suganuma, J. Takenaka and K. Hagio: Mater. Trans. <B>46</B> (2005) 2413&ndash;2418.

14) T. B. Massalski: <I>Binary Alloy Phase Diagrams</I>, 2nd ed. (ASM International, 1992).

15) Y. S. Kim, K. S. Kim, C. W. Hwang and K. Suganuma: J. Alloys Compd. <B>352</B> (2003) 237&ndash;245.

16) K. S. Kim, S. H. Hur and K. Suganuma: Microelectron. Reliab. <B>43</B> (2003) 259&ndash;267.

17) S. K. Kang, D. Y. Shih, D. Leonard, D. W. Henderson, T. Gosselin, S. I. Cho, J. Yu and W. K. Choi: JOM <B>56</B> (2004) 34&ndash;38.

18) E. A. Bransdes and G. B. Brook: <I>Smithells Metals Reference Book</I>, 7th Ed. (Butterworth Heinemann press, British, 1992).

19) K. S. Kim, T. Matsuura and K. Suganuma: J. Electron. Mater. <B>35</B> (2006) 41&ndash;47.

20) L. L. Shreir: <I>Corrosion vol 1 Metal/Environment Reactions</I>, 2nd Ed. (Newnes Butterworths, London and Boston 1976).

21) E. A. Anderson: ASTM Special Publication No. 175 1955.